010-87681080
010-87681080
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心實驗檢測儀器粗糙度測量儀
相關文章
非接觸式檢測粗糙度儀 售后無憂采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用共聚焦顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS
瀏覽量：409
非接觸表面粗糙度檢測儀 建立3D立體影像采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用共聚焦顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：471
非接觸式表面輪廓粗糙度測量儀是一種通過彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內(nèi)形成不同波長的單色光，每個波長對應一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到它被廣泛應用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導體
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：567
非接觸式粗糙度測試儀 PZ-30LS是一種通過彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內(nèi)形成不同波長的單色光，每個波長對應一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到它被廣泛應用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導體、
產(chǎn)品型號：瀏覽量：576
非接觸粗糙度測量儀主要應用于：油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導體、特種材料表面粗糙度測量等。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：1546
便攜分體式粗糙度儀金屬與非金屬被測零件表面粗糙度的檢測，適用于多種機加工零件、機械加工制造業(yè)、檢測、商檢等部門，尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場檢驗，以及檢測、計量、商檢等部門的外出檢定，不會對工件產(chǎn)生損傷。
產(chǎn)品型號：PZ-180NDT瀏覽量：2539
Copyright © 2025北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號：京ICP備19005501號-1
產(chǎn)品分類